硬盤(pán)驗(yàn)證器是一款非常好用的硬盤(pán)修復(fù)工具,自動(dòng)監(jiān)測(cè)硬盤(pán)的使用情況,查看硬盤(pán)的損壞程度,查看硬盤(pán)的各種詳細(xì)數(shù)據(jù),在線驗(yàn)證,非常好用!
軟件介紹
硬盤(pán)驗(yàn)證器是一款非常實(shí)用的硬盤(pán)檢驗(yàn)工具,它可以智能檢測(cè)出硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的壞扇區(qū),有讀取+擦除損壞+讀取等高級(jí)測(cè)試模式,幫助大家修復(fù)硬盤(pán)扇區(qū)損壞問(wèn)題,可以有效保障硬盤(pán)的穩(wěn)定工作,有需要的朋友歡迎使用。
功能詳解
硬盤(pán)驗(yàn)證器提供有關(guān)壞扇區(qū)的詳細(xì)信息,以便您可以嘗試修復(fù)它們。您的硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器是以塊為單位(扇區(qū))寫(xiě)入數(shù)據(jù),在每次硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器更新扇區(qū)時(shí),它還將在更新扇區(qū)數(shù)據(jù)后立即存儲(chǔ)校驗(yàn)和。當(dāng)從硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器讀取扇區(qū)時(shí),扇區(qū)校驗(yàn)和應(yīng)與扇區(qū)數(shù)據(jù)匹配。如果校驗(yàn)和不匹配,硬盤(pán)會(huì)在寫(xiě)入操作期間識(shí)別為出現(xiàn)問(wèn)題–該事件稱為壞扇區(qū)。在寫(xiě)入操作或硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器故障期間,出現(xiàn)壞扇區(qū)的原因有很多,如電源故障等。
硬盤(pán)驗(yàn)證器為您提供了一種查看是否存在壞扇區(qū)的方法,因此您可以通過(guò)覆蓋它來(lái)清除所謂的壞扇區(qū)。如果出現(xiàn)了因?yàn)殡娫垂收蠈?dǎo)致的壞扇區(qū),則“讀取+擦除損壞+讀取”測(cè)試將是清除壞扇區(qū)的最快方法。如果因?yàn)轵?qū)動(dòng)器出現(xiàn)問(wèn)題導(dǎo)致的壞扇區(qū),則應(yīng)在備份數(shù)據(jù)后選擇“寫(xiě)入+驗(yàn)證”測(cè)試。注意,此測(cè)試將清除磁盤(pán)上的所有數(shù)據(jù),請(qǐng)慎重使用。
所有測(cè)試都會(huì)形成日志,您可復(fù)制后供日后使用。
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